Global Thin Film Metrology Systems Market 2014-2018

世界の薄膜測定システム市場動向(2014~2018)

◆タイトル:Global Thin Film Metrology Systems Market 2014-2018
◆商品コード:IRTNTR3213
◆調査・発行会社:Technavio (Infiniti Research Ltd.)
◆発行日:2014年1月17日
◆ページ数:50
◆資料形式:pdf / 英語
◆納品方法:Eメール
◆調査対象地域:グローバル
◆販売価格オプション(消費税別)
Single User LicenseUSD2,500 ⇒換算¥282,500見積依頼/購入/質問フォーム
Five User License USD2,800 ⇒換算¥316,400見積依頼/購入/質問フォーム
Enterprise License USD3,500 ⇒換算¥395,500見積依頼/購入/質問フォーム
販売価格オプションの説明はこちらでご利用ガイドはこちらでご確認いただけます。
※お支払金額は「換算金額(日本円)+消費税+配送料(Eメール納品は無料)」です。
※Eメールによる納品の場合、通常ご注文当日~2日以内に納品致します。
※商品の納品後、納品日+5日以内に請求書を発行し、お客様宛に郵送いたしますので、請求書発行日より2ヶ月以内に銀行振込にて支払をお願いします。(振込先:三菱東京UFJ銀行/京橋支店/H&Iグローバルリサーチ株式会社)
※上記の日本語題名はH&Iグローバルリサーチが翻訳したものです。英語版原本には日本語表記はありません。
※為替レートは適宜修正・更新しております。リアルタイム更新ではありません。
※ご購入後、資料に記載の英語表現や単語の意味に関しましては無料でお答えいたします。(但し、対応範囲は弊社で判断)
※弊社H&Iグローバルリサーチ株式会社はTechnavio (Infiniti Research Ltd.)の日本における正規販売代理店です。

【資料の概要】

本調査レポートでは、"世界の薄膜測定システム市場動向(2014~2018)"について調査・分析し、エグゼクティブサマリー、市場概観、市場規模及び予測、主要地域別分析、主要国別分析、購買基準、市場成長要因、市場の課題、市場動向、競争状況、主要企業(ベンダー)分析等の情報をお届けいたします。

TechNavio’s analysts forecast the Global Thin Film Metrology Systems market to grow at a CAGR of 5.02 percent over the period 2013-2018. One of the key factors contributing to this market growth is the high demand for thin film metrology systems for the development of flat panel displays. The Global Thin Film Metrology Systems market has also been witnessing the increased R&D spending by vendors. However, the cyclical nature of the semiconductor industry could pose a challenge to the growth of this market.
TechNavio’s report, the Global Thin Film Metrology Systems Market 2014-2018, has been prepared based on an in-depth market analysis with inputs from industry experts. The report covers the Americas, EMEA, and APAC; it also covers the Global Thin Film Metrology Systems market landscape and its growth prospects in the coming years. The report also includes a discussion of the key vendors operating in this market.
Key vendors dominating this space include Nanometrics Inc., Nova Measuring Instruments, KLA-Tencor Corp., and Rudolph Technologies Inc.
Other vendors mentioned in the report are Dainippon Screen Mfg Co. Ltd., FIE Co., HORIBA Ltd., Jordan Valley Semiconductors Ltd., Ocean Optics Inc., ReVera Inc., Semilab Co. Ltd., Scientific Computing International, and Windsor Scientific
Key questions answered in this report:
What will the market size be in 2018 and what will be the growth rate?
What are key market trends?
What is driving this market?
What are the challenges to market growth?
Who are the key vendors in this market space?
What are the market opportunities and threats faced by key vendors?
What are the strengths and weaknesses of each of these key vendors?
You can request one free hour of our analyst’s time when you purchase this market report. Details provided within the report.

【資料の目次】

01. Executive Summary
02. List of Abbreviations
03. Scope of the Report
03.1 Market Overview
03.2 Product Offerings
04. Market Research Methodology
04.1 Market Research Process
04.2 Research Methodology
05. Introduction
06. Market Landscape
06.1 Market Size and Forecast
06.2 Five Forces Analysis
07. Geographical Segmentation
07.1 Global Thin Film Metrology Systems Market by Geographical Segmentation 2013
07.2 Thin Film Metrology Systems Market in the APAC Region
07.2.1 Market Size and Forecast
07.3 Thin Film Metrology Systems Market in the Americas
07.3.1 Market Size and Forecast
07.4 Thin Film Metrology Systems Market in the EMEA Region
07.4.1 Market Size and Forecast
08. Key Leading Countries
08.1 South Korea
08.2 US
08.3 Taiwan
09. Buying Criteria
10. Market Growth Drivers
11. Drivers and their Impact
12. Market Challenges
13. Impact of Drivers and Challenges
14. Market Trends
15. Trends and their Impact
16. Vendor Landscape
16.1 Competitive Scenario
16.2 Other Prominent Vendors
17. Key Vendor Analysis
17.1 Nanometrics Inc.
17.1.1 Business Overview
17.1.2 SWOT Analysis
17.2 Nova Measuring Instruments
17.2.1 Business Overview
17.2.2 SWOT Analysis
17.3 KLA-Tencor Corp.
17.3.1 Business Overview
17.3.2 Business Segmentation of KLA-Tencor Corp. 2013
17.3.3 SWOT Analysis
17.4 Rudolph Technologies Inc.
17.4.1 Business Overview
17.4.2 Business Segmentation of Rudolph Technologies Inc. 2013
17.4.3 SWOT Analysis
18. Other Reports in this Series

List of Exhibits
Exhibit 1: Market Research Methodology
Exhibit 2: Global Thin Film Metrology Systems Market 2013-2018 (US$ million)
Exhibit 3: Global Thin Film Metrology Systems Market by Geographical Segmentation 2013
Exhibit 4: Thin Film Metrology Systems Market in the APAC Region 2013-2018 (US$ million)
Exhibit 5: Thin Film Metrology Systems Market in the Americas 2013-2018 (US$ million)
Exhibit 6: Thin Film Metrology Systems Market in the EMEA Region 2013-2018 (US$ million)
Exhibit 7: Thin Film Metrology Systems Market in South Korea 2013-2018 (US$ million)
Exhibit 8: Thin Film Metrology Systems Market in the US 2013-2018 (US$ million)
Exhibit 9: Taiwan Thin Film Metrology Systems Market 2013-2018 (US$ million)
Exhibit 10: Business Segmentation of KLA-Tencor Corp. 2013
Exhibit 11: Business Segmentation of KLA-Tencor Corp. FY2013
Exhibit 12: Business Segmentation of Rudolph Technologies Inc. 2013
Exhibit 13: Business Segmentation of Rudolph Technologies Inc. by Revenue 2013



【掲載企業】

Nanometrics Inc., Nova Measuring Instruments, KLA-Tencor Corp., and Rudolph Technologies Inc.


【調査方法】

一次資料による調査(業界専門家、ベンダー、代理店、顧客等を対象にしたデプスインタビュー調査など)及び二次資料による調査(Technavio独自のプラットフォーム、産業書籍、企業報告書、ニュース記事、アナリストレポート、貿易協会、政府機関発行データなど)

【免責事項】
※当資料上の情報/データは調査会社が信頼できると判断した情報源から入手したものに基づき作成しましたが、その正確性・完全性を保証するものではありません。当資料に記載された情報/データ/見解/仮説などは作成時点又は発行時点における調査会社の判断であり、その後の状況変化に応じて変更される場合があります。当資料上の情報/データに基づいたお客様の意思決定又は実行による結果について、調査会社/発行会社/販売会社H&Iグローバルリサーチはその責を負いかねますのでご了承ください。英文資料の紹介ページにおける日本語題名/概要/目次はH&Iグローバルリサーチが翻訳した内容であり、翻訳の正確性・完全性を保証するものではありません。

[世界の薄膜測定システム市場動向(2014~2018)]についてメールでお問い合わせはこちら


◆H&Iグローバルリサーチ株式会社のお客様(例)◆